До 16 октября подайте заявку на обучение по курсу «Проектирование тестовых структур СнК» от экспертов YADRO

Чем сложнее микросхема, тем сложнее найти в ней ошибку. Массовое производство требует гарантий, что каждая микросхема из миллионов будет работать идеально. Обычными методами это проверить невозможно – слишком долго, дорого и неэффективно.

В чем решение? Ответ – проектирование с учетом тестирования (Design for Testability – DFT). Такой подход значительно повышает качество микросхем и снижает стоимость их производства. Это особенно важно, когда речь идёт о массовом производстве микросхем и когда цена ошибки возрастает многократно.

Курс полезен для всех, кто планирует строить карьеру в области разработки, производства и испытаний Систем-на-Кристалле (СнК) и позволит лучше понимать роль испытаний и производственного тестирования.

Авторы и ведущие курса – эксперты компании YADRO. 

Особенности курса:

• Возможность ознакомиться с маршрутом проектирования от спецификации до готовой микросхемы
• Не только теория, но и практика 
• По окончании курса выдается сертификат от компании YADRO, который засчитывается в качестве индивидуальных достижений при поступлении на профильную магистратуру «Вычислительные системы и ЭКБ»
• Полученные на курсе знания пригодятся на Соревнованиях по проектированию СнК 2027 в DFT треке

Требования к участникам

• Не младше 3-го курса по профильному направлению, в том числе обучающиеся в магистратуре
• Знание основ цифровой схемотехники
• Понимание основ маршрута разработки Систем-на-Кристалле
• Базовые знания Verilog/ System Verilog

Дополнительно приветствуется

• Умение работать с Linux, знание языков shell (bash, cshell, etc.)
• Знание основ языка TCL
• Знакомство с отладочными интерфейсами JTAG
• Владение английский языком на уровне чтения технической документации

Занятия будут проходить раз в неделю очно в МИЭТ в вечернее время.

Регистрация на курс открыта до 16 октября по ссылке

Узнать больше и задать вопросы можно в чате Телеграм